Tính toán tiết diện Compton của nhôm, sắt,đồng, thép C45 và thép CT3 trong vùng năng lượng 250 keV–2600 keV
Trong công trình này, tiết diện tán xạ Compton đối với một số vật liệu như nhôm, sắt, đồng, thép C45 và CT3 đã được tính toán bằng chương trình Mathematica và Fortran 95 cho vùng năng lượng từ 250 keV đến 2600 keV. Bên cạnh đó, chương trình MCNP5 và thực nghiệm đã sử dụng kỹ thuật gamma truyền qua để xác định hệ số suy giảm tuyến tính từ đó tính toán tiết diện Compton. Độ sai biệt lớn nhất 6 % cho thấy chương trình tính toán phù hợp tốt với cơ sở dữ liệu NIST, chương trình MCNP5 và thực nghiệm.
Trang 1
Trang 2
Trang 3
Trang 4
Trang 5
Trang 6
Trang 7
Trang 8
Trang 9
Bạn đang xem tài liệu "Tính toán tiết diện Compton của nhôm, sắt,đồng, thép C45 và thép CT3 trong vùng năng lượng 250 keV–2600 keV", để tải tài liệu gốc về máy hãy click vào nút Download ở trên
Tóm tắt nội dung tài liệu: Tính toán tiết diện Compton của nhôm, sắt,đồng, thép C45 và thép CT3 trong vùng năng lượng 250 keV–2600 keV
Science & Technology Development, Vol 18, No.T1- 2015 Trang 34 Tính toán tiết diện Compton của nhôm, sắt,đồng, thép C45 và thép CT3 trong vùng năng lượng 250 keV–2600 keV Nguyễn Thảo Ngân Trần Thiện Thanh Châu Văn Tạo Trường Đaị hoc̣ Khoa hoc̣ Tự nhiên, ĐHQG-HCM Lê Quang Vương Nguyễn Thị Bình Hoàng Đức Tâm Trường Đại học Sư phạm TpHCM ( Bài nhận ngày 17 tháng 11 năm 2014, nhận đăng ngày 18 tháng 06 năm 2015) TÓM TẮT Trong công trình này, tiết diện tán xạ Compton đối với một số vật liệu như nhôm, sắt, đồng, thép C45 và CT3 đã được tính toán bằng chương trình Mathematica và Fortran 95 cho vùng năng lượng từ 250 keV đến 2600 keV. Bên cạnh đó, chương trình MCNP5 và thực nghiệm đã sử dụng kỹ thuật gamma truyền qua để xác định hệ số suy giảm tuyến tính từ đó tính toán tiết diện Compton. Độ sai biệt lớn nhất 6 % cho thấy chương trình tính toán phù hợp tốt với cơ sở dữ liệu NIST, chương trình MCNP5 và thực nghiệm. Từ khóa: Tiết diện Compton, MCNP5, gamma truyền qua. GIỚI THIỆU Phương pháp gamma tán xạ được ứng dụng nhiều trong các lĩnh vực kiểm tra không phá hủy (NDT – Non-destructive testing) như xác định độ ăn mòn vật liệu [5], đo độ dày của phim hữu cơ phủ trên tấm thép [2], kiểm tra khuyết tật trên cấu trúc đa lớp [4], đo mật độ của chất lỏng [6], Các ứng dụng này cho thấy được tầm quan trọng cũng như tính phổ biến của phương pháp gamma tán xạ. Ưu điểm của phương pháp này là nguồn gamma và thiết bị ghi đo không cần tiếp xúc trực tiếp với đối tượng cần đo, nguồn phát gamma và đầu dò có thể đặt cùng một phía so với vật mẫu. Do đó, khi cần đo trực tiếp các vật mẫu đặt trong một môi trường khắc nghiệt (nhiệt độ cao, áp suất lớn,) hoặc khi điều kiện đo chỉ cho phép hệ đo tiếp cận từ một phía (thành lò chịu nhiệt, ống trụ,) thì hệ đo tán xạ gamma là giải pháp hữu hiệu. Tiết diện tán xạ Compton trở nên lớn hơn tiết diện hiệu ứng quang điện và tiết diện hiệu ứng tạo cặp trong vùng năng lượng từ 250 keV đến 3000 keV. Do đó, tính toán tiết diện tán xạ Compton hỗ trợ tốt cho các nghiên cứu tương tác của gamma với mẫu sinh học [7]. Trong công trình này, một chương trình tính toán được phát triển để tính tiết diện tán xạ Compton dựa trên công thức Klein – Nishina [1] đối với vật liệu dạng đơn chất (nhôm, sắt, đồng) và hỗn hợp (thép CT3, thép C45). Kết quả tính toán được so sánh với thực nghiệm và mô phỏng bằng chương trình MCNP5. Độ sai biệt 6 % giữa chương trình phát triển với thực nghiệm, mô phỏng và cơ sở dữ liệu NIST [11]. Điều này cho thấy, chương trình tính toán của chúng tôi là đáng TAÏP CHÍ PHAÙT TRIEÅN KH&CN, TAÄP 18, SOÁ T1 - 2015 Trang 35 tin cậy và có thể áp dụng tính toán tiết diện Compton cho các vật liệu khác. PHƯƠNG PHÁP NGHIÊN CỨU Cơ sở lý thuyết Tiết diện vi phân của tán xạ Compton được tính toán bằng công thức Klein – Nishina [1]: 2 2 2 2 e 2 2 Compt d 1 cos (1 cos ) r 1 d 2[1 (1 cos )] (1 cos )[1 (1 cos )] (1) Khi lượng tử gamma tới mang năng lượng E (keV) tương tác với electron, tiết diện toàn phần tán xạ Compton được tính bằng công thức: 22 3 2 2 Compt 2 4 2 32 c 2 18 16 4 2 2 ln 1 2 m 10 e 1 2 (2) Với 2e 0r e / 4 m c , 2E / mc , 2 0e / 4 c , đơn vị tính của Compt là 2cm . Công thức gần đúng để tính tiết diện tán xạ Compton cho toàn bộ Z electron của nguyên tử [3]: Ctot ComptZ (3) Đối với vật liệu đơn chất, tiết diện tán xạ Compton được xác định thông qua hệ số hấp thụ khối Compton: Ctot Ctot Av M N (4) Trong đó, M (mol/g) là khối lượng nguyên tử, AvN là hằng số Avogadro. Hệ số hấp thụ khối Compton của vật liệu hỗn hợp gồm n nguyên tố: n CCtot i i i 1 i (5) Công thức tính tiết diện tán xạ Compton đối với vật liệu dạng hỗn hợp: n iCtot i i 1 i Ctot Comptn n i i Av i 1 i 1i i Z M N M M (6) Trong đó, i là phần trăm khối lượng của nguyên tố thứ i và Ctot có đơn vị (cm 2 ) Chương trình tính toán Hình 1 thể hiện giải thuật tính tiết diện tán xạ Compton bằng Fortran 95. Trong đó, số khối M, số bậc nguyên tử Z, khối lượng riêng của các nguyên tố được lấy theo NIST. Khối lượng electron lấy theo đơn vị năng lượng, nghĩa là m 510,99891(keV). Science & Technology Development, Vol 18, No.T1- 2015 Trang 36 Hình 1. Lưu đồ chương trình tính tiết diện tán xạ Compton. Thành phần nguyên tố của thép C45 và thép CT3 được lấy theo tiêu chuẩn [10]. Mô phỏng và thực nghiệm Hình 2. Hệ thực nghiệm đo gamma truyền qua. Hệ thực nghiệm đo gamma truyền qua được thiết kế như Hình 2, sử dụng các nguồn điểm 137 Cs(661,7 keV), 60 Co(1173,2 keV và 1332,5 keV), 226 Ra(1764,5 keV). Đầu dò NaI(Tl) 802 3 3 (Canberra Inc.) với kích thước tinh thể 7,62 7,62 cm, độ phân giải 7,5 % và có cấu trúc được mô phỏng như Hình 3. Các thông số đầu d
File đính kèm:
- tinh_toan_tiet_dien_compton_cua_nhom_satdong_thep_c45_va_the.pdf